 |
В этом разделе собран максимально полный набор новостных сообщений, распространяемых от лица Интерактив Корпорэйшн - Представительство в Москве, сообщения получены напрямую от Интерактив Корпорэйшн - Представительство в Москве и/или из открытых информационных источников. |
|
Дата |
Новости |
| 21.09.02 |
В Белорусском технологическом университете (г.Минск, Белоруссия) установлен сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-5610LV с интегрированной микроаналитической системой JED-2201. |
| 02.09.02 |
В исследовательской лаборатории Ульбинского металлургическоого комбината (танталовое производство, г.Усть-Каменогорск, Казахстан) установлен сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-5610 с интегрированной микроаналитической системой JED-2201. |
| 30.08.02 |
В исследовательской лаборатории авиационного завода КНАПО (г.Комсомольск на Амуре) установлен сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-5610 оснащенный микроаналитической системой Inca Energy 300. |
| 26.08.02 |
В Карагандинском металлургическом институте (г.Темиртау, Казахстан) установлен сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-5910 с интегрированной микроаналитической системой JED-2201. |
| 15.08.02 |
В институте минерального сырья (ВИМС, г.Москва) запущен в эксплуатацию электронно-зондовый микроанализатор JXA-8100. Серийное производство данной модели началось в 2000г. и это первый в России прибор нового поколения.
Прибор оснащен тремя волновыми спектрометрами:
(1) стандартным, с кристаллами LiF и PET; (2) с уменьшенным диаметром окружности Роуланда для анализа элементов-примесей, с кристаллами LiF и PET; (3) для анализа легких элементов (от бора, кристаллы TAP и LDE2). Кроме того, на нем установлен энергодисперсионный спектрометр Inca Energy 400 для быстрого количественного и качественного анализа, а также получения карт распределения элементов - до 32 элементов одновременно при увеличении от 40 крат и более. |
| 08.08.02 |
Открылся новый сайт http://www.ulvac.ru/ - вакуумное технологическое оборудование. |
| 01.06.02 |
28-31 мая 2002г в Институте проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов (пос. Черноголовка) состоялась XIX Российская конференция по электронной микроскопии. Компания Interactive Corporation выступила спонсором конференции. При поддержке Interactive Corporation с докладом на коференции выступил ведущий специалист фирмы JEOL (Япония) Тецуо Ойкава |
| 02.04.02 |
С апреля 2002г. два наиболее популярных сканирующих микроскопа JEOL – 5610 и 5910 заменены новейшими моделями с улучшенными характеристиками: JSM-6360 и JSM-6460.
Одновременно фирма JEOL объявила о выпуске новейшей модели сканирующего микроскопа высокого разрешения – JSM-7400F. |
| 01.04.02 |
С апреля 2002г. два наиболее популярных сканирующих микроскопа JEOL – 5610 и 5910 заменены новейшими моделями с улучшенными характеристиками: JSM-6360 и JSM-6460.
Одновременно фирма JEOL объявила о выпуске новейшей модели сканирующего микроскопа высокого разрешения – JSM-7400F.
Поставка новых моделей начинается со второго полугодия 2002г. Первый в России прибор – JSM-6460LV – будет установлен в лаборатории Саяногорского алюминиевого комбината (компания Русский Алюминий) осенью 2002г. |
| 30.03.02 |
26 марта 2002 года в Институте кристаллографии РАН состоялся Московский семинар по электронной микроскопии. Ведущий специалист фирмы JEOL (Япония) Тецуо Ойкава выступил с докладом на тему:
"Последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии и ее применение в исследованиях металлов, наноматериалов и кристаллографии".
Представлены последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, рассмотрены современные методы исследования структуры новейших материалов, представлены результаты исследований, полученные на микроскопах с ускоряющим напряжением 200-400 кВ, в том числе на приборах с автоэмиссионными катодами.
Семинар организован совместно Институтом кристаллографии и фирмой Interactive Corporation, авторизованным представителем JEOL Ltd. в России и СНГ. |
