 |
В этом разделе собран максимально полный набор новостных сообщений, распространяемых от лица Интерактив Корпорэйшн - Представительство в Москве, сообщения получены напрямую от Интерактив Корпорэйшн - Представительство в Москве и/или из открытых информационных источников. |
|
Дата |
Новости |
| 26.03.02 |
26 марта 2002 года в 14 часов в помещении конференц-зала Института кристаллографии РАН состоялся Московский семинар по электронной микроскопии. Ведущий специалист фирмы JEOL (Япония) Тецуо Ойкава выступил с докладом на тему:
"Последние разработки JEOL в области просвечивающих электронных микроскопов и применение этих приборов в исследованиях металлов, наноматериалов и кристаллографии".
Представлены последние разработки JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, рассмотрены современные методы исследования структуры новейших материалов, представлены результаты исследований, полученные на микроскопах с ускоряющим напряжением 200-400 кВ, в том числе на приборах с автоэмиссионными катодами.
Семинар организован совместно Институтом кристаллографии и фирмой Interactive Corporation, авторизованным представителем JEOL Ltd. в России и СНГ.
Сообщаем также, что представители JEOL (генеральный менеджер компании по Азии и СНГ г-н Яшида и специалист по просвечивающей электронной микроскопии г-н Ойкава) будут Москве, в офисе нашей компании, до конца марта. Мы можем организовать встречу для обсуждения технических и/или финансовых условий по поставке оборудования JEOL. |
| 18.03.02 |
18марта 2002 года в 15 часов в помещении конференц-зала Института общей физики РАН состоялся Московский семинар по растровой электронной микроскопии с демонстрацией микроскопа JEOL JXA-5910LV. Заместитель генерального менеджера фирмы JEOL (Япония) г-н Акира КАБАЯ выступил с докладом о современных разработках в области растровой микроскопии. |
| 10.03.02 |
18 марта 2002 года в 15 часов в помещении конференц-зала Института общей физики РАН состоялся Московский семинар по растровой электронной микроскопии с демонстрацией микроскопа JEOL JXA-5910LV. Заместитель генерального менеджера фирмы JEOL (Япония) г-н Акира КАБАЯ выступил с докладом о современных разработках в области растровой микроскопии. |
| 01.03.02 |
В институте общей физики РАН нами успешно запущен в эксплуатацию сканирующий электронный микроскоп JEOL JSM-5910LV. На него установлена микроаналитическая система фирмы Oxford Instruments, включающая энергодисперсионный спектрометр Inca Energy 300, волновой спектрометр Inca Wave 500 и приставку для анализа дифракции отраженных электронов Inca Crystal 200. |
| 01.03.02 |
В институте общей физики РАН нами успешно запущен в эксплуатацию сканирующий электронный микроскоп JEOL JXA-5910LV. В течение марта-апреля на него будет установлена микроаналитическая система фирмы Oxford Instruments, включающая энергодисперсионный спектрометр Inca Energy 300, волновой спектрометр Inca Wave 500 и приставку для анализа дифракции отраженных электронов Inca Crystal 200.
Для всех заинтересованных в приобретении подобных систем может быть организована демонстрация. Обращаться по телефону 748-2007 (Interactive Corporation). |
